尔雅大学物理实验(丘伟)期末答案(学习通2023课后作业答案)

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01 霍尔传感器测杨氏模量

《霍尔传感器测杨氏模量》单元检测题

1、尔雅选出杨氏模量公式正确的大学答案是？
A、E=(d^3 mg)/(4a^3 b?物理z)
B、E=dmg/(4a^3 b?实验z)
C、E=dmg/(4a^3 ?丘伟期末z)
D、E=(d^3 mg)/(4a^3 b)

2、学习请确定本节实验课霍尔电势的通课方向
A、与磁场B方向垂直
B、后作与电流I方向垂直
C、业答与磁场B和电流I方向均垂直
D、尔雅与磁场B方向垂直

3、大学答案两磁铁间隙中心位置A的物理磁感应强度为多少？
A、10
B、实验约等于10
C、丘伟期末0
D、学习无法确定

4、两磁铁间隙中心位置A的霍尔电势为多少？
A、10
B、约等于10
C、0
D、无法确定

5、霍尔电势与位移量存在一一对应的关系，当位移量小于（）时，具有良好的线性
A、5mm
B、3mm
C、2mm
D、4mm

6、霍尔传感器灵敏度KH的单位是？
A、mV*mA*T-1
B、mV*mA-1T-1
C、mV*A-1T-1
D、V*mA-1T-1

7、霍尔传感器具有什么特点
A、尺寸小
B、电路简单
C、频率宽
D、寿命长

8、本节实验为了实现均匀梯度的磁场，需要什么条件？
A、选用两块相同的磁铁
B、选用不用的磁铁
C、磁铁平行相对放置
D、磁铁相互垂直放置

9、实验中误差的来源有哪些？
A、仪器误差
B、环境误差
C、测量方法误差
D、操作误差

10、加砝码时需注意什么？
A、动作要轻
B、不能使砝码盘晃动过大
C、每次加20g砝码
D、无需注意

03 巨磁电阻效应及应用

《巨磁电阻效应及应用》单元检测题

1、巨磁电阻效应是指某些磁性材料的（）随着外加磁场的变化而显著变化的现象。
A、电压
B、电流
C、电容
D、电阻

2、根据导电的微观机理，电子在导电时并不是沿直线前进，而是不断和晶格中的原子发生碰撞，这种碰撞称为（）
A、干涉
B、衍射
C、散射
D、反射

3、自旋磁矩与材料的磁场方向平行的电子，所受散射几率（）自旋磁矩与材料方向反平行的电子。
A、远大于
B、远小于
C、等于
D、略大于

4、在多层膜结构中，无外加磁场时，上下两层磁性材料是（）耦合的。
A、平行
B、反平行
C、垂直
D、反垂直

5、对下图的多层铁磁膜材料施加足够强的外磁场后，上下两层磁性材料的自旋磁矩方向与外磁场方向（）
A、相反
B、平行
C、垂直
D、一个平行、一个反平行

6、无限长直螺线管内部轴线上任一点的磁感应强度为（）
A、
B、
C、
D、

7、巨磁电阻效应的发现者是（）
A、彼得·格伦贝格尔
B、斯图尔特·帕金
C、阿尔贝·费尔
D、威廉·汤姆森

8、电子散射几率小，则平均自由程（），电阻率（）
A、短
B、长
C、高
D、低

9、电子的自旋磁矩有（）和（）于外磁场两种可能取向
A、平行
B、反平行
C、垂直
D、反垂直

10、下图是某中GMR材料的磁阻特性，下列分析正确的是：
A、该材料的电阻随着外加磁场的增大而增大；
B、该材料的电阻随着外加磁场的增大而减小；
C、外加磁场足够大时，继续增大磁场，电阻不再变化；
D、增大磁场和减小磁场时的磁阻特性曲线不重合，是因为有磁滞特性。

06 衍射光栅

《衍射光栅》单元检测题

1、利用光栅方程测量光波波长的实验条件是
A、平行光垂直光栅表面入射
B、任意光入射
C、行光任意方向入射
D、以上都正确

2、波长λ=5500?的单色光垂直入射于光栅常数d=2×10－4cm的平面衍射光栅上，可能观察到的光谱线的最大级次为
A、2
B、3
C、4
D、5

3、一衍射光栅对某波长的垂直入射光在屏幕上只能出现零级和一级主极大，欲使屏幕上出现更高级次的主极大，应该
A、换一个光栅常数较大的光栅
B、换一个光栅常数较小的光栅
C、将光栅向靠近屏幕的方向移动
D、光栅向远离屏幕的方向移动

4、在光学平台上自组分光计，用透射光栅测光波波长，需自组平行光管和望远镜，平行光管应有哪些元件组成
A、狭缝、凸透镜、钠灯
B、狭缝、分划板、凸透镜
C、光栅、凸透镜、分划板
D、狭缝、凸透镜

5、某单色光垂直入射到每毫米有500条狭缝的光栅上，在第四级明纹中观察到的最大波长小于
A、4000?
B、4500 ?
C、5000 ?
D、5500 ?

6、已知光栅常数为d＝6.0×10-4cm，以波长为6000 ?的单色光垂直照射在光栅上，可以看到的最大明纹级数和明纹条数分别是
A、10，20
B、10，21
C、9，18
D、9，19

7、用透射光栅测光波波长实验调节过程中,如发现光谱线倾斜,说明
A、光栅倾斜
B、狭缝倾斜
C、狭缝、光栅都倾
D、分划板十字叉丝倾斜

8、用透射光栅测光波波长实验 调节光栅过程中,如发现光谱呈阶梯状排列，说明
A、光栅倾斜
B、狭缝倾斜
C、狭缝、光栅都倾斜
D、分划板十字叉丝倾斜

9、复色光经同一光栅衍射时，下列说法正确的是
A、同一级光栅光谱中波长短的衍射角大
B、同一级光栅光谱中波长短的衍射角小
C、同一级光栅光谱中波长短和波长长的衍射角相等
D、衍射角大小与波长无关

10、在光学平台上自组分光计，需自组平行光管和开普勒望远镜，开普勒望远镜应有哪些元件组成
A、长、短焦距凸透镜各一个、分划板、光栅
B、长、短焦距凸透镜各一个、分划板
C、长焦距凸透镜、分划板
D、短焦距凸透镜、分划板

11、在光学平台上自组分光计，用透射光栅测光波波长，需自组平行光管和望远镜，平行光管由狭缝和凸透镜组成，狭缝与透镜间距应为
A、任意距离
B、大于凸透镜焦距
C、小于凸透镜焦距
D、等于凸透镜焦距

12、在光学平台上自组分光计，用透射光栅测光波波长，在角度无法测量的情况下其测量公式可变形为 （f为望远镜物镜焦距，LK为K级衍射光到0级衍射光的间距）
A、dLK
B、/LK
C、/LK
D、KLK

13、在光学平台上自组分光计，用透射光栅测光波波长，如果入射光为白光，则同一级光谱衍中射角最小的是
A、红光
B、紫光
C、黄光
D、蓝光

14、在光学平台上自组分光计，用透射光栅测光波波长，如果入射光为白光，则同一级光谱衍中射角最大的是
A、红光
B、紫光
C、黄光
D、蓝光

15、衍射光栅可以测量
A、光波波长
B、光栅常数
C、折射率
D、以上都对

16、衍射光栅测波长，其测量公式是 （f为望远镜物镜焦距，LK为K级衍射光到0级衍射光的间距）
A、
B、
C、
D、dLK

17、光栅光谱与棱镜光谱的区别是
A、光栅光谱衍射分光，棱镜光谱是折射分光
B、光栅光谱折射分光，棱镜光谱衍射是分光
C、栅光谱有不同级数，棱镜光谱只有一级
D、光栅光谱有只有一级，棱镜光谱不同级数

18、用透射光栅测光波波长实验 调节光栅过程中,如狭缝太宽或太窄对测量结果有什么影响
A、太宽读数误差较大
B、宽窄对测量没有影响
C、太窄0级会找不准
D、太窄对测量没有影响

19、在光学平台上自组分光计，需自组平行光管和望远镜，如果各元件不共轴对实验有什么影响
A、对实验没有影响
B、实验误差增大
C、波长可能偏大
D、波长可能偏小

20、衍射光栅实验中，用光栅方程测定光波波长实验的误差主要来源有
A、入射光与光栅平面不垂直
B、平行光管的狭缝与光栅刻痕不平行
C、平行光管的狭缝太宽
D、平行光管的狭缝太窄

08 微细线径的测量

《微细线径的测量》单元检测题

1、关于CCD工作原理下列描述错误的是：
A、是一种金属氧化物半导体（MOS）集成电路器件；
B、以电荷作为信号；
C、基本功能是进行电荷的存储和电荷的转移；
D、构成CCD的基本单元是CMOS电容器；

2、关于CCD软件操作快捷键描述不正确的是：
A、常用的快捷键是 ，，，
B、是采集信号快捷键；是停止采集快捷键；
C、是开始系统校准的快捷键；
D、显示结果的快捷键是；

3、关于CCD系统定标下列描述错误的是：
A、CCD系统定标的数学模型是：
B、CCD系统定标的标定公式是： ;
C、CCD系统定标中标准细丝直径可以用游标卡尺或螺旋测微仪测量；
D、CCD系统定标误差比较小；

4、引入二次定标的原因描述错误的是：
A、系统标定方法简单，但测量精度不高；
B、系统标定方法存在着系统误差的影响；
C、采用二次标定法的目的就是修正实测值中的系统误差；
D、采用二次定标比系统定标方便；

5、实验中调焦方法描述不正确的是：
A、调焦是用标准细丝为基准细丝；
B、调焦是调节调焦旋钮；
C、调焦判断方法是：软件窗口中缺口内侧边缘尽量竖直；
D、软件窗口中缺口外侧边缘尽量竖直。

6、实验中，激光强度的合适范围是：
A、软件界面中柱状波形的实体部分占100%；
B、软件界面中柱状波形的实体部分占10%；
C、软件界面中柱状波形的实体部分占40%~70%；
D、软件界面中柱状波形的实体部分占比随意；

7、一个圆柱形被测细丝，利用CCD测定其直径后，现在需要获得该细丝的密度，需要增加测量的物理量和实验仪器是：
A、测量被测细丝长度；需要增加游标卡尺；
B、测量被测细丝直径；需要增加螺旋测微仪；
C、需要测量被测细丝长度；需要增加米尺；
D、需要测量被测细丝的长度和质量；需要增加电子天平；

8、力学方面的设计实验需要遵循两个原则是：
A、误差传递公式
B、误差均分原则
C、相对误差最小
D、仪器精度越高越好

9、细丝直径常见的测量方法有：
A、螺旋测微器测量法
B、游标卡尺测量法
C、CCD测径法
D、电桥法
E、干涉和衍射法
F、光杠杆法

10、关于CCD成像下列描述正确的是：
A、CCD成像有平行光投影法和光学成像法；
B、平行光投影法简单，但投影缺口的竖直程度较差；
C、光学成像法在光路中有一个透镜，测量前需要调焦；
D、平行光投影法和光学成像法没有区别；

11、CCD的定标方式有：
A、系统标定（一次定标）；
B、二次定标；
C、分段二次定标；
D、高次定标；

12、当CCD系统调焦完成后，进行系统定标的步骤描述正确的是：
A、用游标卡尺测出标准细丝的直径；
B、在软件界面的“数据处理”菜单中找到“开始系统准”，或者按 “”；
C、点“开始系统校准”，弹出对话框1，点“确定”，弹出对话框2，输入标准细丝的直径， 点确定；弹出对话框3，点确定；
D、然后按“”、 “”，最后按“ ”；屏幕右下方的读数栏中出现像元分辨率的 值;

13、当系统定标完成后，测被测细丝直径的方法描述中正确的是：
A、把被测细丝放在测量架上；
B、按“” 采集信号，再按""停止采集；
C、在读数框读取直径结果；
D、旋转被测细丝，重复测量多次；

14、对于CCD系统的二次定标正确的是：
A、细丝的实际尺寸和对应的象元数之间的系：=，其中：是二次定标的像元 分辨率，是系统误差，这是二次定标的数学模型;
B、二次定标的参数公式：
C、取直径不相同的两根标准细丝，用游标卡尺分别测出直径 ；用这两根标准细丝分别做系统校准，获得标准细丝对应的系统像元分辨率，并计算出标准细丝对应的像元个数、;
D、利用参数公式计算二次定标的两个参数 、;

15、本实验中，需要使用的仪器设备有：
A、游标卡尺；
B、直尺；
C、CCD测径系统；
D、电子天平；

16、下图是CCD结构示意图，其中描述正确的是：
A、其中1是CCD采集盒；
B、3是凸透镜；
C、4是测量架；
D、5是激光器；

17、系统定标与二次定标的关系描述正确的是：
A、系统定标是其他定标方式的基础；
B、二次定标相当于做两次系统定标；
C、二次定标解决了系统定标中的不含系统误差的问题；
D、系统定标与二次定标没有关系；

18、实验中常见的错误有：
A、把标准细丝和被测细丝搞混淆；
B、激光强度太强，导致软件界面全屏变红而不能采集信号；
C、调焦旋钮拧过头导致不能调焦；
D、激光强度太弱，导致软件界面不能采集信号；

19、系统定标和二次定标之间没有关系。

20、在CCD光学原理中，平行光投影法和光学投影法没有区别。

02 螺线管内磁场的测量

《螺线管内磁场的测量》单元检测题

1、通电长直螺线管内管轴方向，中心点的磁感应强度大约是端点的
A、二分之一
B、两倍
C、管长与管半径之比
D、管半径与管长之比

2、冲击电流计调节过程中，如果测量数据多次无变化，正确的操作方法是：
A、拨动“量程”选择键，选择另一个量程
B、拨动“调零”选择键，拨向“调零”档位
C、拨动“调零”选择键，拨向“测量”档位
D、关闭电源重新启动

3、冲击电流计法测磁场实验中，换向开关在改变磁通时，断开或是闭合的要求是
A、平稳缓慢的断开或是闭合，保护仪器
B、迅速断开或是闭合，但是不能用力过猛
C、断开要迅速，闭合要平缓，都不能用力过猛
D、没有要求，只要保护好仪器设备

4、测量电量Qm的时候，选择测量仪的哪个开关（按照实验电路图选择）
A、K1
B、K2
C、K1和K2一起选
D、均不选

5、测量电量Qx的时候，选择测量仪的哪个开关（按照实验电路图选择）
A、K1
B、K2
C、K1和K2
D、均不选

6、冲击电流计主要用来测量
A、短时间放电脉冲所迁移的电量
B、电容
C、电感量
D、磁感应强度

7、测量Qm时，输出电源选择多少V？电流表量程选择多少mA?(参考PPT提供的表格数据)
A、3V，20.000mA
B、20V，20.000mA
C、3V，2000.000mA
D、20V，20.000mA

8、测量Qx时，输出电源选择多少V？电流表量程选择多少mA?(参考PPT提供的表格数据)
A、20V，2000.0mA
B、3V，2000.0mA
C、20V，20.000mA
D、3V，20.000mA

9、通电长直螺线管内管轴方向，端点的磁感应强度大约是中心点的
A、二分之一
B、两倍
C、管长与管半径之比
D、管半径与管长之比

10、标尺读数基准线确定方式
A、主尺0刻度和小标尺0刻度对齐
B、调节玻璃管顶部白色小塑料管刚刚好对齐灰色支架位置，观察主尺0刻度对齐小标尺的读数就是标尺读数的基准线。
C、把探测线圈调节到完全可以观察到的位置，观察主尺0刻度对齐小标尺的读数就是标尺读数的基准线。
D、随便选择任意位置确定为标尺读数基准线。

11、冲击电流计输入端所加电压不能大于多少？（参看课本）
A、50V
B、20V
C、30V
D、40V

12、通过冲击电流计的电流不能超过多少？（参看课本）
A、10mA
B、20mA
C、30mA
D、40mA

13、冲击电流计只适应测量多少次回零脉冲量？
A、单次
B、两次
C、三次
D、四次

14、初级回路的电流不可以直接输入次级回路中，原因是：
A、会烧毁次级线圈
B、会烧毁初级线圈
C、会烧毁探测线圈
D、会烧毁冲击电流计

15、螺线管长度和半径比值保持不变的情况下，下列说法正确的是
A、不论螺线管放大或缩小，磁感应强度相对值沿螺线管轴的分布曲线不改变。
B、不论线圈匝数N和电流I为多少，磁感应强度相对值沿螺线管轴的分布曲线不改变。
C、螺线管放大或缩小，磁感应强度相对值沿螺线管轴的分布曲线会有变化。
D、线圈匝数N和电流I变化时，磁感应强度相对值沿螺线管轴的分布曲线也会相应改变

16、通电长直螺线管内沿管轴方向磁场的分布情况
A、螺线管内轴向中部磁感应强度最大，端点最小
B、螺线管内轴向磁感应强度存在一个近似均匀区
C、螺线管内轴向中部磁感应强度最小，端点磁场最大
D、螺线管内轴向磁感应强度均一样

17、用冲击法测量螺线管内磁场，会用到以下哪些仪器
A、冲击电流计
B、直流电源
C、电压表
D、滑线变阻器

18、用冲击法测量螺线管内磁场，不会用到以下哪些仪器
A、电压表
B、数字示波器
C、直流电流表
D、螺线管磁场测量仪

19、冲击电流计若显示“ERROR”，正确的操作是
A、更换大挡量并重新调零
B、减小电路中的电压及电流
C、更换小挡量并重新调零
D、增大电路中的电压及电流

20、为了保证探测回路总电阻保持不变，在测Qm和Qx实验过程中，探测回路应该保持不变，故整个实验过程中，探测回路应将以下哪三个仪器、元件串联：
A、冲击电流计
B、探测线圈
C、标准互感器初级线圈
D、标准互感器次级线圈

04 折射率的测量

《折射率的测量》单元检测题

1、分光计采用双游标读数的原因是（ ）。
A、消除视差引起的系统误差
B、消除视差引起的偶然误差
C、消除偏心差引起的系统误差
D、消除偏心差引起偶然误差

2、分光计的最小分度，即分光计的精度是（ ）。如图，分光计的读数为（ ）。
A、1′，134°15′
B、0.5°，134°15′
C、1′，134°45′
D、1°，134°45′

3、在分光计的调节中，调节望远镜光轴垂直于分光计主轴，利用的是：（ ）。
A、干涉法
B、各半调节法
C、自准法
D、反射法

4、分光计实验中“各半调节”是用在（ ）。
A、调节望远镜使之聚焦于无穷远处
B、调整平行光管使之能发出平行光
C、当望远镜中观察到绿十字像时，进行望远镜光轴垂直于分光计主轴的调节
D、进行载物台垂直于分光计主轴的调节

5、在分光计的调节中，望远镜的绿十字像始终与（ ）重合，平行光管的狭缝像与（ ）重合。
A、上黑十字叉丝，上黑十字叉丝
B、下黑十字叉丝，下黑十字叉丝
C、上黑十字叉丝，下黑十字叉丝
D、下黑十字叉丝，上黑十字叉丝

6、在分光计的调节中，调节望远镜光轴垂直于分光计主轴，首先将平面镜如（ ）放置，望远镜与之垂直，观察到绿十字像后，调节（ ）和（ ）。
A、Ⅰ图，调平螺钉b2，调平螺钉b3
B、Ⅰ图，调平螺钉b2/b3，望远镜仰角螺钉M
C、Ⅱ图，调平螺钉b2，调平螺钉b3
D、Ⅱ图，调平螺钉b2/b3，望远镜仰角螺钉M

7、在分光计的调节中，调好望远镜光轴垂直于分光计主轴后，应调节载物台垂直于分光计主轴，此时平面镜应如（ ）放置，望远镜与之垂直，观察到绿十字像后，调节（ ）。
A、Ⅰ图，调平螺钉b1
B、Ⅰ图，望远镜仰角螺钉M
C、Ⅱ图，调平螺钉b1
D、Ⅱ图，望远镜仰角螺钉M

8、本实验中，用最小偏向角法测三棱镜折射率时，最小偏向角等于（ ）。
A、三棱镜顶角的一半
B、钠光谱线转折位置与垂直三棱镜面的位置之间的夹角
C、钠光谱线转折位置与钠光入射谱线之间的夹角
D、垂直三棱镜面的位置与钠光入射谱线之间的夹角

9、分光计由以下哪几部分组成：（ ）。
A、望远镜
B、载物台
C、平行光管
D、刻度盘
E、底座

10、分光计的调节要求包括：（ ）。
A、平行光管出射平行光
B、望远镜接收平行光
C、望远镜光轴垂直于分光计中心主轴
D、载物台垂直于分光计中心主轴
E、平行光管光轴垂直于分光计中心主轴

11、下列说法正确的有（ ）。
A、望远镜物镜调焦时，无论如何转动望远镜或载物台都观察不到绿十字像，则应重新粗调。
B、采用“各半调节法” 进行望远镜光轴垂直于分光计主轴的调节。
C、采用“各半调节法” 进行载物台垂直于分光计主轴的调节。
D、在测最小偏向角时，只转动望远镜就能发现钠光谱线的转折位置。

05 单缝衍射及光强测量

《单缝衍射及光强测量》单元检测题

1、当缝宽增加时，衍射图样的光强和条纹宽度的变化( )。
A、光强增加，条纹变宽
B、光强增加，条纹变细
C、光强减弱，条纹变宽
D、光强减弱，条纹变细

2、为使得激光垂直照射单缝平面应该调节（）。
A、激光的功率
B、激光对准光强仪的中心
C、反射点和出射点重合
D、衍射条纹和接收窗平行

3、在单缝衍射的实验中，若在示波器上看到一条“削顶”直线，为了得到最后的光强分布曲线应该调节( )。
A、CCD光强仪的高度
B、左旋减小激光器的功率
C、光栅片的位置
D、示波器上的旋钮

4、单缝衍射光强分布规律的表达式为（）。
A、
B、
C、
D、

5、在单缝衍射中，中央明纹的宽度是其它明纹宽度的（）倍。
A、1
B、1/2
C、2
D、3

6、在夫琅和费衍射中，形成暗纹的条件为（）。
A、
B、
C、
D、

7、对于单缝衍射实验现象，以下正确的是（ ）。
A、缝的宽度越小，中央亮条纹的宽度越窄
B、缝的宽度越小，中央亮条纹的宽度越宽
C、缝的宽度越大，衍射现象越明显
D、入射光的频率越大，衍射现象越明显

8、光在衍射后产生的明暗相间的条纹光环叫衍射图样，包括( )。
A、单缝衍射
B、圆孔衍射
C、圆板衍射
D、泊松亮斑

9、单缝衍射光强分布的特点( )。
A、中央明纹最亮最宽
B、中央明纹两侧光强度迅速减小,直至第一暗条纹；随后光强又逐渐增大成为第一明条纹
C、光强条纹的明暗、宽窄都对应着光强图线的高低及宽窄
D、明暗相间的条纹

10、在单缝衍射中除了中央明纹，其它明纹的宽度是一样的（）。

11、在上下移动光强仪来调节CCD接收器的高度使得衍射图样集中到CCD光敏区的中央位置时，同时可以左右移动CCD光强仪（）。

12、根据观察方式的不同，通常把光的衍射现象分为菲涅尔衍射和夫琅和费衍射( )。

13、夫琅和费衍射是指光源和观察屏孔（或缝、丝）为无限远或相当于无限远（）。

14、缝与接收器间距应该满足远场条件（）。

15、在本实验中，测量计算相对光强比时，直接用Y值相比较（）。

《单缝衍射及光强测量》单元检测题（正确）

1、当缝宽增加时，衍射图样的光强和条纹宽度的变化( )。
A、光强增加，条纹变宽
B、光强增加，条纹变细
C、光强减弱，条纹变宽
D、光强减弱，条纹变细

2、为使得激光垂直照射单缝平面应该调节（）。
A、激光的功率
B、激光对准光强仪的中心
C、反射点和出射点重合
D、衍射条纹和接收窗平行

3、在单缝衍射的实验中，若在示波器上看到一条“削顶”直线，为了得到最后的光强分布曲线应该调节( )。
A、CCD光强仪的高度
B、左旋减小激光器的功率
C、光栅片的位置
D、示波器上的旋钮

4、单缝衍射光强分布规律的表达式为（）。
A、
B、
C、
D、

5、在单缝衍射中，中央明纹的宽度是其它明纹宽度的（）倍。
A、1
B、1/2
C、2
D、3

6、在夫琅和费衍射中，形成暗纹的条件为（）。
A、
B、
C、
D、

7、对于单缝衍射实验现象，以下正确的是（ ）。
A、缝的宽度越小，中央亮条纹的宽度越窄
B、缝的宽度越小，中央亮条纹的宽度越宽
C、缝的宽度越大，衍射现象越明显
D、入射光的频率越大，衍射现象越明显

8、光在衍射后产生的明暗相间的条纹光环叫衍射图样，包括( )。
A、单缝衍射
B、圆孔衍射
C、圆板衍射
D、泊松亮斑

9、单缝衍射光强分布的特点( )。
A、中央明纹最亮最宽
B、中央明纹两侧光强度迅速减小,直至第一暗条纹；随后光强又逐渐增大成为第一明条纹
C、光强条纹的明暗、宽窄都对应着光强图线的高低及宽窄
D、明暗相间的条纹

10、在单缝衍射中除了中央明纹，其它明纹的宽度是一样的（）。

11、在上下移动光强仪来调节CCD接收器的高度使得衍射图样集中到CCD光敏区的中央位置时，同时可以左右移动CCD光强仪（）。

12、根据观察方式的不同，通常把光的衍射现象分为菲涅尔衍射和夫琅和费衍射( )。

13、夫琅和费衍射是指光源和观察屏孔（或缝、丝）为无限远或相当于无限远（）。

14、缝与接收器间距应该满足远场条件（）。

15、在本实验中，测量计算相对光强比时，直接用Y值相比较（）。

09 设计实验电路测定微安表的内阻

《设计实验电路测定微安表的内阻》单元检测题

1、等精度测量又称重复性实验，对于多步骤等精度测量实验应遵循的原则是( )
A、必须破坏上次的实验状态，且要从起始步骤开始；
B、只须破坏上次的实验状态即可，不须从起始步骤开始。
C、不需破坏上次的实验状态，也不须从起始步骤开始。
D、以上都不正确。

2、已知电压表的量程是300mV,精度等级为0.5级，表盘总刻度是120格，那么当指针指向90.0格时，读数正确的是（ ）
A、225.0mA;
B、225mA;
C、90.0mA;
D、90mA

3、已知电流表的量程是100uA精度等级为0.5级，表盘总刻度是100格，那么当指针指向90.0格时，读数正确的是（ ）
A、90.0mA
B、90mA
C、90.00mA
D、以上都不正确

4、已知电流表的量程是100uA精度等级为1级，表盘总刻度是100格，那么当指针指向90.0格时，读数正确的是（）
A、90.0mA
B、90mA
C、90.00mA
D、以上都不正确

5、下图所示的替代法推导出来的性能指标表达式中，R0是指从B、C两端往左看进去的去源（电压源置0）等效电阻，其值为（ ）
A、
B、RBC
C、RAC
D、RH

6、替代法推导出来的性能指标表达中，，计算测量结果的B类不确定度时，标准微安表读数I应取多次测量的（）
A、最大值
B、最小值
C、平均值
D、以上都不对

7、伏安法推导出来的性能指标表达式中：，计算测量结果的B类不确定度时，标准电压表读数V和待测表头读数I应取多次测量的（）
A、最大值
B、最小值
C、平均值
D、以上都不对

8、等精度测量的概念的描述中，正确的是（ ）
A、等精度测量是指在相同的实验条件下进行多次测量
B、等精度测量是指在在不同的实验条件下进行多次测量
C、对于多步骤的等精度测量重复实验时，无需从起始步骤开始。
D、以上都不对

9、等精度测量的间接测量量，其数据处理方法的描述中，正确的是（ ）。
A、等精度测量的间接测量量，不可以直接采用贝塞尔公式（）计算其不确定度的A类分量
B、等精度测量的间接测量量，可以直接采用贝塞尔公式（）计算其不确定度的A类分量
C、以上都正确
D、以上都不正确

10、最佳方案的物理意义通常包含最佳电路参数和最佳测量条件。

11、替代法测定微安表内阻实验中，替换表头的电阻箱初值可以设置为0?。

12、对于单一性能指标的设计任务，其最佳方案是指使得该性能指标达到最优时的解。

13、为了确保实验仪器的安全，接线前应把电源电压初值设为0，实验时根据最佳测量条件，调节电源电压的实际输出。

14、电压表测电压的方法是让电压表并联于待测负载两端。

15、电流表测电流的方法是让电流表并联于待测支路中。

16、电流表的接线方法是让电流从电表的正极流进去，从负极流出来。

17、最佳电路参数是指当性能指标表达式中包含有元件参数时，使得性能指标取得最小值时该元件参数的取值。

18、最佳测量条件是指当性能指标表达式中包含有仪表读数时，使得性能指标取得最小值时该仪表的读数值。

19、等精度测量是指在相同的实验条件下，对同一物理量进行多次测量。

20、本实验所提供的直流稳压电源使用时，把某通道的调流调到最大3.2A，然后直接调节调压旋钮就可以从该通道的输出引脚输出电压。

10 设计和组装欧姆表

《设计和组装欧姆表》单元检测题

1、欧姆表的刻度是____。当所测外电阻为____时，流经表头的电流最大。
A、均匀的；0
B、不均匀的；0
C、均匀的；∞
D、不均匀的；∞

2、在用欧姆表测电阻时，为提高测量的准确度，选择量程时，应使指针尽可能在_______附近。
A、最小值
B、最大值
C、中间值
D、任意位置

3、调零电阻的作用是确保____。
A、电路电流为0时表头指针也指0
B、待测电阻为0时表头指针也指0
C、电路电流为0时表头指针满偏
D、待测电阻为0时表头指针满偏

4、若待测电阻约为70欧姆，则欧姆表的中值电阻选____比较合适。
A、10欧姆
B、70欧姆
C、100欧姆
D、500欧姆

5、用“×10”档欧姆表测量一个电阻R的阻值，若指针在表盘上100欧与200欧的正中间，则____。
A、R=150欧姆
B、R=1500欧姆
C、100欧姆<R<150欧姆
D、150欧姆<R<200欧姆

6、用一个已调零欧姆表测量电阻R时，指针在满刻度的4/5处，现测另一个电阻时，指针在满刻度的1/5处，则该电阻的阻值为____。
A、4R
B、5R
C、10R
D、16R

7、以下关于中值电阻的描述中，正确的有？
A、它等于欧姆表的内阻
B、它决定了欧姆表的量程
C、当被测电阻等于它时，表头指针满偏
D、当被测电阻等于它时，表头指针半偏

8、以下说法中错误的有哪些？
A、欧姆表的表盘跟表头一样，刻度是均匀分布的。
B、欧姆表在每次测量之前都要进行调零操作。
C、“×100”档的欧姆表无法测量小于10欧姆的电阻。
D、改变调零电阻的大小，不会改变欧姆表的中值电阻。

9、以下关于中值电阻的描述中，正确的有？
A、当被测电阻等于它时，表头指针满偏。
B、当被测电阻等于它时，表头指针半偏。
C、它比欧姆表的总内阻大一倍。
D、它决定了欧姆表的档位。

10、以下说法中错误的有哪些？
A、欧姆表的表盘是不均匀的。
B、电源电压太高会导致欧姆表无法调零，太低则不会。
C、电源电压太低会导致欧姆表无法调零，太高则不会。
D、“×100”档的欧姆表无法测量大于5000欧姆的电阻。

07 迈克尔逊干涉仪的调整与应用

《迈克尔逊干涉仪的调整与应用》单元检测题

1、实验中，测量光波长或薄片折射率可用光源及干涉分别是:
A、白光，等倾，激光，等厚
B、白光，等厚，钠光，等倾
C、钠光，等厚，白光，等倾
D、激光，等倾，白光，等厚

2、如图所示，下面读数正确的是：
A、31.49403
B、31.4943
C、31.49403mm
D、31.4943mm
E、48.49403
F、48.4943
G、48.49403mm
H、48.4943mm

3、如图所示，下面读数记录正确的是：
A、直尺54mm、手轮0.51mm、·微动鼓轮0.00625mm
B、直尺54、手轮0.51、·微动鼓轮0.00625
C、直尺54mm、手轮0.51mm、·微动鼓轮0.0062mm
D、直尺65、手轮0.51、·微动鼓轮0.0062
E、直尺65mm、手轮0.51mm、·微动鼓轮0.00625mm
F、直尺65、手轮0.51、·微动鼓轮0.00625
G、直尺65mm、手轮0.51mm、·微动鼓轮0.0062mm
H、直尺65、手轮0.51、·微动鼓轮0.0062

4、如图所示，下面读数记录正确的是：
A、直尺54mm、手轮51格（每格0.01mm）、·微动鼓轮62.5格（每格0.0001mm）
B、直尺54mm、手轮51.5格（每格0.01mm）、·微动鼓轮62.5格（每格0.0001mm）
C、直尺54mm、手轮51格（每格0.01mm）、·微动鼓轮62格（每格0.0001mm）
D、直尺65mm、手轮51格（每格0.01mm）、·微动鼓轮62.5格（每格0.0001mm）
E、直尺65mm、手轮51.5格（每格0.01mm）、·微动鼓轮62.5格（每格0.0001mm）
F、直尺65mm、手轮51格（每格0.01mm）、·微动鼓轮62格（每格0.0001mm）

5、在迈克尔逊干涉仪中，其读数结构的估读位在小数点后的第几位（单位：mm）
A、1
B、2
C、3
D、4
E、5
F、6

6、测量线胀膨系数的实验中，那个参数是需要利用迈克尔逊干涉仪光路进行测量的？
A、
B、
C、
D、

7、1、如图所示，实验中所用的分束镜、补偿板、单色光源分别是：
A、G1、G2、钠光；
B、G1、G2、激光；
C、G1、G2、白光；
D、G2、G1、钠光；
E、G2、G1、激光；
F、G2、G1、白光；
G、M1、M2、钠光；
H、M1、M2、激光；
I、M1、M2、白光；

8、实验中，测量光波长所用的最终公式是：
A、
B、
C、
D、k

9、在迈克尔逊干涉仪实验中，关于所形成干涉条纹的有关说法，正确的是：
A、当M1和M2严格垂直时， M2与M1‘之间形成空气薄层，这时是等倾干涉。
B、当M1和M2严格垂直时， M2与M1‘之间形成空气薄层，这时是等厚干涉。
C、当M1和M2不严格垂直时，M2与M1‘之间形成一楔形空气薄层，这时是等倾干涉。
D、当M1和M2不严格垂直时，M2与M1‘之间形成一楔形空气薄层，这时是等厚干涉。

10、在利用迈克尔逊干涉仪测量波长时，需要对干涉仪进行“校零”与“消空程”，下面说法正确的是：
A、进行“校零”时，手轮对齐某一刻度，其转动方向与微动鼓轮相同;
B、进行“校零”时，手轮对齐某一刻度，其转动方向无需与微动鼓轮相同;
C、进行“校零”时，微动鼓轮只能沿顺时针方向旋转至零；
D、进行“校零”时，微动鼓轮只能沿逆时针方向旋转至零；
E、进行“校零”时，微动鼓轮能沿任一方向旋转至零；
F、一般先进行“消空程”，然后再进行“校零”；
G、一般先进行“校零”，然后再进行“消空程”；
H、进行“消空程”时，使微动鼓轮按原方向转，直到看到圆环“冒”或“缩”，中途微动鼓轮不能反转。
I、进行“消空程”时，使微动鼓轮按任一方向转，直到看到圆环“冒”或“缩”，中途微动鼓轮可以反转。

11、迈克尔逊干涉仪及其原理可以用来：
A、可观察光的干涉现象（等厚条纹、等倾条纹、白光彩色条纹）；
B、可测定单色光波长，测定光源和滤光片相干长度;
C、配法布里─珀罗系统可观察多光束干涉现象;
D、可测薄片厚度和折射率，空气折射率等.
E、可直接测量线膨胀系数

12、关于相干光，下面有关的说法正确的是：
A、迈克尔逊干涉仪获得相干光的方法是分振幅；
B、迈克尔逊干涉仪获得相干光的方法是分波面（分波阵面）；
C、随意两束光相遇就可以形成干涉条纹；
D、相遇形成干涉条纹的两束光应该是相干光；
E、采用分波面（分波阵面）法获得相干光的干涉装置有杨氏双缝、菲涅耳双面镜和洛埃镜等；
F、采用分振幅法获得相干光的干涉装置有薄膜、迈克尔逊干涉仪等；
G、采用分振幅法获得相干光的干涉装置有薄膜、杨氏双缝等；

13、下面有关定域与非定域的干涉的说法正确的是：
A、两个相干的单色点光源所发出的球面波在空间多处相遇皆可产生干涉，此干涉不局限于某一特定区域，称为非定域干涉。
B、面光源产生的在特定区域内存在着的干涉现象，称为定域干涉；
C、两个相干的单色面光源所发出的球面波在空间多处相遇皆可产生干涉，此干涉不局限于某一特定区域，称为非定域干涉。
D、等倾干涉分定域干涉与非定域干涉的区别，但等厚干涉只有定域干涉；
E、点光源产生的在特定区域内存在着的干涉现象，称为定域干涉；
F、等倾干涉有定域干涉与非定域干的区别，等厚干涉也有定域干涉与非定域干涉的区别；

14、关于迈克尔逊干涉仪的注意事项，说法正确的是：
A、为了使测量结果正确，必须避免引入空程，应将手轮按某一方向转几圈，直到干涉条纹开始均匀移动后，才可测量。测量手轮只能向一个方向转中间不能倒退。
B、不许用手触摸各光学元件，也不许用任何东西擦拭。
C、未扩束的激光不能直射入眼。
D、调整各部件用力要适当，均匀缓慢，不可强旋硬搬。
E、使用完毕，应适当放松M1和M2背面的三个螺钉、水平拉簧螺钉和竖直拉簧螺钉，以免弹簧片、拉簧和支杆弹性疲劳

15、在迈克尔逊干涉仪实验中，有关干涉条纹的变化说法正确的是：
A、当干涉条纹“冒出”时，实验后的干涉条纹比实验前的干涉条纹小，空气薄膜厚度d增加；
B、当干涉条纹“冒出”时，实验后的干涉条纹比实验前的干涉条纹大，空气薄膜厚度d增加；
C、当干涉条纹“冒出”时，实验后的干涉条纹比实验前的干涉条纹小，空气薄膜厚度d减少；
D、当干涉条纹“冒出”时，实验后的干涉条纹比实验前的干涉条纹大，空气薄膜厚度d减少；
E、当干涉条纹“缩进”时，干涉条纹会间距更宽、条纹变粗；
F、当干涉条纹“缩进”时，干涉条纹会间距更宽、条纹变细；
G、当干涉条纹“缩进”时，干涉条纹会间距更密、条纹变粗；
H、当干涉条纹“缩进”时，干涉条纹会间距更密、条纹变细；

学习通大学物理实验(丘伟)

大学物理实验是大学物理课程中一个非常重要的环节，它可以帮助学生加深对物理知识的理解，提高实验操作和数据处理的能力，同时也可以培养学生的探究精神和创新思维。

学习通大学物理实验(丘伟)是一个专门为大学物理实验学习而设计的在线课程。该课程由中国科学院大学丘伟教授主讲，包含了大量的实验视频演示、实验操作指导和实验数据处理方法的讲解，可以帮助学生全面了解大学物理实验的各个环节。

课程内容

学习通大学物理实验(丘伟)课程共包含17个章节，主要涵盖以下内容：

• 实验前准备：包括实验环境和仪器的准备、实验前的注意事项等
• 实验操作：包括实验步骤的演示、操作技巧和注意事项的讲解等
• 数据处理：包括数据采集、数据处理和误差分析等方面的内容
• 实验案例：包括电磁学、光学、力学等方面的实验案例，讲解了实验原理和实验操作方法

课程特点

学习通大学物理实验(丘伟)课程有以下几个特点：

• 内容丰富：课程内容涵盖了大学物理实验的各个方面，包括实验前准备、实验操作、数据处理和实验案例等
• 视频演示：课程中有大量的实验视频演示，能够帮助学生更加清晰地理解实验操作步骤和实验现象
• 操作指导：课程中对实验操作中的技巧和注意事项进行了详细的讲解，能够帮助学生更好地掌握实验操作技能
• 案例讲解：课程中给出了多个不同方面的实验案例，可以帮助学生更深入地理解不同物理现象的实验原理和操作方法
• 教授知名：课程由中国科学院大学丘伟教授主讲，是国内物理学界的权威专家，具有极高的教学和研究水平

学习体验

学习通大学物理实验(丘伟)课程采用在线学习的方式，学生可以随时随地进行学习，学习时间和地点非常灵活。同时，课程中有大量的实验视频演示和操作指导，可以帮助学生更好地准备实验和完成实验操作。

我在学习通大学物理实验(丘伟)课程中获益良多。通过该课程，我全面了解了大学物理实验的各个环节，掌握了实验操作技巧和数据处理方法，提高了自己的实验能力和探究精神。同时，课程中的实验案例讲解也让我对不同物理现象有了更深入的理解。

总结

学习通大学物理实验(丘伟)是一门非常好的在线课程，它可以帮助学生深入了解和掌握大学物理实验的各个环节。该课程的内容丰富、教授知名、学习体验良好，是大学物理实验学习者不可错过的一门课程。

学习通大学物理实验(丘伟)

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• 数据处理：包括数据采集、数据处理和误差分析等方面的内容
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• 操作指导：课程中对实验操作中的技巧和注意事项进行了详细的讲解，能够帮助学生更好地掌握实验操作技能
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学习体验

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我在学习通大学物理实验(丘伟)课程中获益良多。通过该课程，我全面了解了大学物理实验的各个环节，掌握了实验操作技巧和数据处理方法，提高了自己的实验能力和探究精神。同时，课程中的实验案例讲解也让我对不同物理现象有了更深入的理解。

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